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標準孔當量計算法-超聲波檢測缺陷定量 3
缺陷定量包括確定缺陷的大小和數量，而缺陷的大小指缺陷的面積和長度。一般超聲波缺陷定量可以分為小于晶片直徑的缺陷定量和大于晶片直徑的缺陷定量。 ①小于晶片直徑的缺陷定量包括等效試塊直接比較法（試塊法）、當量計算法（計算法）、AVG曲線法和底波高度百分比法。 ②大于晶片直徑的缺陷定量包括相對靈敏度測量方法（測長法），絕_對靈敏度測量方法，極坐標作圖方法，包絡作圖方法（超聲C掃描）和標準圖
發布時間：2022-05-01 19:33
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底波當量計算法-超聲波檢測缺陷定量 2
缺陷定量包括確定缺陷的大小和數量，而缺陷的大小指缺陷的面積和長度。一般超聲波缺陷定量可以分為小于晶片直徑的缺陷定量和大于晶片直徑的缺陷定量。 ①小于晶片直徑的缺陷定量包括等效試塊直接比較法（試塊法）、當量計算法（計算法）、AVG曲線法和底波高度百分比法。 ②大于晶片直徑的缺陷定量包括相對靈敏度測量方法（測長法），絕_對靈敏度測量方法，極坐標作圖方法，包絡作圖方法（超聲C掃描）和標準圖
發布時間：2022-04-20 09:31
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試塊法-超聲波檢測缺陷定量1
缺陷定量包括確定缺陷的大小和數量，而缺陷的大小指缺陷的面積和長度。一般超聲波缺陷定量可以分為小于晶片直徑的缺陷定量和大于晶片直徑的缺陷定量。 ①小于晶片直徑的缺陷定量包括等效試塊直接比較法（試塊法）、當量計算法（計算法）、AVG曲線法和底波高度百分比法。 ②大于晶片直徑的缺陷定量包括相對靈敏度測量方法（測長法），絕_對靈敏度測量方法，極坐標作圖方法，包絡作圖方法（超聲C掃描）和標準
發布時間：2022-04-15 08:48
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